SDR-527K

SDR-527K


延伸/複屈折配向軸測定装置

(ダブル光学系・光散乱観察ユニット・二軸延伸機搭載モデル)

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製品の特徴
  • 光弾性変調法(PEM)により、複屈折位相差(Retardation)と配向軸をリアルタイム(msec) で測定可能 ・自動制御により、温度条件設定、延伸倍率、延伸速度、延伸モード(同時、逐次 、多段)など多様な組合せで延伸測定できます。
  • 光学的測定と力学的測定とを、両方同時に測定する事により、複屈折配向軸の温度依存特性 、複屈折-応力特性(光弾性係数)も評価できるようになりました。
  • 延伸後フィルムの複屈折・配向軸を分布(マッピング)測定し、結果より最適延伸条件確立
  • ダブル光学系採用により延伸中、3次元屈折率楕円体(Nx,Ny,Nz)及び厚み方向複屈折( Rth)をリアルタイムに測定可能

  • 用途
  • 光学フィルム、機能性フィルムなどの延伸過程中評価試験(In-Situ評価)
  • 光学材料、高分子材料などの延伸試験評価

  • 仕様
  • 光学測定部
    ダブル光学系(入射角:0度、30度)
    面内と厚み方向の複屈折・配向角同時測定
  • 二軸延伸部
    倍率:65->380mm
    ロードセル:2個
    温度:常温~200℃ 熱風循環方式
    試料サイズ:85×85mm~
  • 外形寸法
    W680mm×H1,550mm×D1230mm
    約700kg